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110GHz光波元件分析仪,助力解决光芯片测试难题

分类:公司新闻 发布时间:2023-12-16 670次浏览

110GHz光波元件分析仪,助力解决光芯片测试难题随着5G/6G光通信带来的流量...

110GHz光波元件分析仪,助力解决光芯片测试难题

随着5G/6G光通信带来的流量和速率的提升及物联网、云计算带动数据中心的大规模建设,400G光模块已成为下一代光通信网络和新一代数据中心的主流方案,其核心的光芯片带宽从50/67GHz逐步向110GHz演变。为解决大带宽光芯片的频响测试难题,思仪科技突破多项核心技术,重磅推出Ceyear 6433P光波元件分析仪(Lightwave Component Analyzer, LCA),产品调制频率范围覆盖10MHz~110GHz,频率响应重复性±1.2dB,可实现光芯片的带宽、平坦度、电反射等频响参数的测量。


光芯片研发和生产中,对带宽、电反射等指标的测试,可准确评估芯片的性能。6433P依据被测芯片的类型,搭配相应的光电/电光转换模块,采用超宽频带1.0mm同轴连接,构建“微波-电/光-光/电-微波”的测试链路,形成针对电光及光电芯片的频响测试解决方案,如图2为电光芯片(电光调制器芯片)频响测试解决方案。

光波元件分析仪.png

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