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广东微米级光纤链路测试方案

分类：仪器百科发布时间：2024-11-23 716次浏览

微米级光纤链路测试方案伴随着光通信技术的快速发展，硅光芯片、光器件、光模块及中短...

微米级光纤链路测试方案

伴随着光通信技术的快速发展，硅光芯片、光器件、光模块及中短距离光通信网络（如机载、车载光网络）的故障定位与诊断，已成为研发人员工作中的瓶颈。上述场景对测试设备分辨率、灵敏度要求较高。为解决该难题，推出了基于OFDR（光频域反射技术）的微米级光纤链路测试方案。攻克了偏振衰落效应抑制技术、扫频非线性补偿技术、事件分析技术等难题，能够以20微米空间分辨率探测链路内部构成，单次扫描即可获取损耗曲线，短测量时间仅需5秒。本方案可快速的提供各器件插回损、位置等关键信息，真正做到芯片级“可视化”。凭借着微米级分辨率与高灵敏度的优势，测试曲线清晰反映了可调光衰减器模块、光开关模块内部密集的事件点（熔接点、耦合器、特殊结构等）。结合事件分析技术，微米级光纤链路测试方案能够对事件点进行自动检测，辅助用户定位故障位置，并获取关注区域插回损。对待测链路多次测量，长度测试重复性小于100微米。

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