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低损耗材料介电性能测试系统 (0.8GHz~170GHz)

产品分类:材料电磁参数综合测试解决方案
产品简介: 低损耗材料介电性能测试系统测试频率范围可达0.8GHz~170GHz,可实现低损耗材料复介电常数高精度测试。系统由矢量网络分析仪、测试夹具、连接器及系统软件等组成,根据用户不同频率测试需求,可选用开放...

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产品概述

主要特点

测试精度高、速度快

系统配置简单、易操作

测量软件简单易用,自动化程度高


开放同轴谐振腔测试方法

开放同轴谐振腔测试法根据用户需求可选用0.8GHz/2.45GHz/4.2GHz/6GHz/7.6GHz、1GHz/3GHz/5GHz/7GHz/9GHz、2GHz/6GHz/10GHz/14GHz/18GHz三种规格腔体进行测试。开放同轴谐振腔操作方便,样品要求低,仅需将样品加工成1cm见方以上、表面光滑的方片即可,样品放置在谐振腔顶端。该方法特点是测试方便,可在一定频带内完成多个频点的高精度测试。


分体谐振腔测试方法

分体式谐振腔为两个对称半圆柱结构,待测试样品加工成平板状放置在两个半腔之间。利用加载样品前后谐振特性参数改变进行计算得到材料相对介电常数和损耗角正切。分体谐振腔为单点频测试谐振腔,可根据用户测试频点需求定制腔体。


准光学谐振腔测试方法

准光学谐振腔测试平台为开放式结构,具有超宽频带(12GHz~170GHz)测试的优点,在损耗测量精度上具备更大优势。根据用户不同测试频率需求可选配不同配置的准光学谐振腔测试平台。


微扰谐振腔测试方法

测试采用圆柱微扰谐振腔测试夹具,谐振腔测试为单点频测试,测试样品为长条形圆柱或矩形条,根据用户需求定制测试频点,最高频率可到20GHz。


系统软件

低损耗材料介电性能测试系统软件可以在0.8GHz~170GHz频段多频点测量固体介质材料的介电常数、损耗角正切等电性能参数,软件可自动进行多频点识别测试。


测试方法选择功能

根据选用的测试方法的不同,会进行相应方法的测试参数设置及校准提示。


介电性能计算功能

根据空腔及加载样品后的S参数,可对低损耗类样品的Q值及频率进行识别并提取,通过软件实现宽频带下对样品多频点计算功能。